讲座题目：透射电镜中的电子能量损失谱（II）

讲座人：汤栋（博士）

讲座时间：2015年12月3日下午3:00

讲座地点：西交大曲江校区，西六楼409

讲座内容：电子能量损失谱是电子显微技术中的一项重要的化学分析手段。相比较为常见的X光能谱技术，能量损失谱具有2-3数量级的更佳的能量分辨率。因此，能量损失谱不仅可以分析材料中的元素及其分布，而且可以分析元素的电子态，化学键，导带与价带电子性质等等能谱不能做的事情。此外，在球差矫正器的帮助下，电子显微镜可以做到原子量级的能损谱应用。相比其它分析技术，能量损失谱具有无可比拟的空间和能量分辨率的结合。讲座将详细介绍能量损失谱的原理和应用，并使用大量的实例说明能损谱在材料表征中的重要性。